CX4-230 CX4-430磁粉探伤标准试片属于美标ASME标准试片，试片用于磁粉探伤时对几何形状复杂，不同材质的工件检验时，可以正确地选择磁化规范，并可检验探伤设备、磁粉或磁悬液的性能，在磁粉探伤过程中,可以避免漏检,正确地知道探伤工作所需要的电流峰值和方向,并对显示缺陷的磁场强度有所估量,是磁粉探伤的调试工具。

CX-230 CX-430磁粉探伤标准试片属于美标ASME标准试片，试片用于磁粉探伤时对几何形状复杂，不同材质的工件检验时，可以正确地选择磁化规范，并可检验探伤设备、磁粉或磁悬液的性能，在磁粉探伤过程中,可以避免漏检,正确地知道探伤工作所需要的电流峰值和方向,并对显示缺陷的磁场强度有所估量,是磁粉探伤的调试工具。

M1型磁粉灵敏度试片用于零部件的磁粉探伤，在检查中，对几何形状复杂，不同材质的工件，可以正确地选择磁化规范，并可检查探伤设备，磁粉和磁悬液的性能，在磁粉探伤操作过程中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量。

D型灵敏度试片用于零部件的磁粉探伤，在检查中，对几何形状复杂，不同材质的工件，可以正确地选择磁化规范，并可检查探伤设备，磁粉和磁悬液的性能，在磁粉探伤操作过程中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量。

C型磁粉灵敏度试片最先由日本无损检测学会提出，以后为多个国家使用，主要用于零部件的磁粉探伤，在检查中，对几何形状复杂，不同材质的工作，可以正确地选择磁化规范，并可检查探伤设备，磁粉和磁悬液的性能，在磁粉探伤操作过程中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量A型灵敏度试片是磁粉探伤工作者常备的调试工具。

磁粉探伤灵敏度试片A1、C型、D型、M1型主要用于检验磁粉检测设备、磁粉和磁悬液的综合性能，显示被检 工件表面具有足够的有效磁场强度和方向、有效检测区以及磁化方法是否正确。

A型灵敏度试片用于零部件的磁粉探伤，在检查中，对几何形状复杂，不同材质的工件，可以正确地选择磁化规范，并可检查探伤设备，磁粉和磁悬液的性能，在磁粉探伤操作过程中，可以避免漏检，正确地知道探伤工作所需的电流峰值和方向，并对显示缺陷的磁场强度有所估量。A型灵敏试片是磁粉探伤工作者的调试工具。